八十年代初我國發(fā)布實施的環(huán)境試驗方法標(biāo)準(zhǔn)一覽表

（合計22項標(biāo)準(zhǔn)，包括總則和名詞術(shù)語）

GB2421—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程　總則

GB2422—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程　名詞術(shù)語

GB2423.1—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程　試驗A：低溫試驗方法

GB2423.2—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程　試驗B：高溫試驗方法

GB2423.3—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程　試驗Ca：恒定濕熱試驗方法

GB2423.4—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程　試驗Db：交變濕熱試驗方法

GB2423.5—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程　試驗Ea：沖擊試驗方法

GB2423.6—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程　試驗Eb：碰撞試驗方法

GB2423.7—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程　試驗Ec：傾跌與翻倒試驗方法

GB2423.8—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程　試驗Ed：自由跌落試驗方法

GB2423.10—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程　試驗Fc：振動（正弦）試驗方法

GB2423.15—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程　試驗Ga：恒加速度試驗方法

GB2423.16—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程　試驗J：長霉試驗方法

GB2423.17—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程　試驗Ka：鹽霧試驗方法

GB2423.19—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程　試驗Kc：接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗方法

GB2423.20—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程　試驗Kd：接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗方法

GB2423.21—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程　試驗M：低氣壓試驗方法

GB2423.22—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程　試驗N：溫度變化試驗方法

GB2423.24—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程　試驗Sa：模擬地面上的太陽輻射試驗方法

GB2423.25—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程　試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗方法

GB2423.26—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程　試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗方法

GB2423.27—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程　試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗方法

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